描述：德國蔡司用于偏光Axio Imager 2光學顯微鏡采用特殊設計的偏光鏡筒通過輔助中間像平面可以使物體、十字準線和可變光闌同時可見。通過調節(jié)型可變光闌能夠將錐光觀測范圍縮小至最小 10μm 的晶體粒度。已對中的 Bertrand 光路方便開關。這一特性讓您在不同技術之間進行快速切換 – 甚至在采集圖像或使用視頻設備時。
程序簡便、操作可靠
您是否正在尋找一款能夠完成復雜任務、生成可靠檢測結果且易于操作的顯微鏡？那么用于偏光顯微觀察的智能型 Axio Imager 將是您的滿意之選。
不同種主機架可供選擇
編碼型、部分電動型或全電動型主機組合搭配，滿足您的個性化需求。
自動組件識別技術值得信賴
自動組件識別（Automatic Component Recognition ACR）技術，使您方便的使用顯微鏡設置。所有電動主機架能夠自動識別物鏡。此外，ACR 技術還能在全電動 Z 系列主機中識別反射光模塊。系統(tǒng)能自動對組件的變換進行登記。
無振動設計確?？煽康拈L時間成像
借助 Axio Imager 出色的穩(wěn)定性得以實現(xiàn)可隨時間變化的測量和高放大倍率觀察。物鏡轉盤、z 軸升降臺和載物臺被設計為一個緊湊式無振動單元，獨立于主機架的其余部分。這種所謂的 "stable cell" 結構設計能夠創(chuàng)建理想的測量條件，以獲得超高質量的觀測結果。
擴展功能令操作更舒適
簡化復雜程序。通過主機架或外置工作站上的觸摸屏來控制全部電動化組件。
保存?zhèn)€性化設置并實現(xiàn)一鍵還原。聚焦操作方便直觀 – 符合人體工程學設計的觸控式按鈕。
或者通過任意擺放的控制面板（可與主機架分離）來操作偏光顯微系統(tǒng)。觀察方式和光路管理器能夠自動選擇合適的設置，以生成可重現(xiàn)且可靠的觀測結果。
錐光觀察技術：使用偏光顯微鏡可以實現(xiàn)快速可靠的晶體結構分析
偏光顯微鏡能夠同時采集無畸變的和錐光的圖像信息。采用特殊設計的偏光鏡筒通過輔助中間像平面可以使物體、十字準線和可變光闌同時可見。通過調節(jié)型可變光闌能夠將錐光觀測范圍縮小至最小 10μm 的晶體粒度。已對中的 Bertrand 光路方便開關。這一特性讓您在不同技術之間進行快速切換 – 甚至在采集圖像或使用視頻設備時。
始終如一的測量性能
借助可 360° 刻度和 0.1° 的游標尺的旋轉、球軸安裝式載物臺可以輕松實現(xiàn)測量，（例如：用于測量礦物的解理角）
光程差測定或應變測量
大量光譜補償器可選，涵蓋從 0 至 30 λ 的測量范圍。
固定光程差的補償器
全波片 λ
四分之一波片 λ / 4
全波片 λ，可旋轉角度 +/- 8°
具有可變光程差的補償器
光楔補償器 0-4 λ
測量補償器
- Berek 傾斜補償器 0-5 λ
- Berek 傾斜補償器 0-30 λ
Axio Imager 還可提供更多方法，例如：
熱顯微技術
使用蔡司 AxioVision 軟件進行數(shù)字分析（例如：晶粒度分析或顆粒度分析）
